Analyseur Xrf à vide supérieur pour une analyse élémentaire haute performance

Analyse élémentaire complète : Analyse les éléments du sodium au uranium avec précision, en identifiant simultanément jusqu'à 40 éléments différents.

Détecteur SDD de pointe : Équipé d'un détecteur à dérive de silicium (SDD) refroidi par Peltier, intégrant une technologie de résolution ultra-élevée.

Système optique sous vide : Doté d'un système optique sous vide innovant et de deux mécanismes de pompage sous vide.

Large gamme d'applications : Convient à l'exploitation minière, à l'industrie du ciment, de la céramique, du verre, à la recherche géochimique et à l'archéologie.

Configuration personnalisable : Détecteur, source de rayons X et plage de contenu de mesure personnalisables disponibles.

Technologie de filtre brevetée : La technologie de filtre mince brevetée améliore les limites de détection pour les éléments légers.

Garantie d'un an : Inclut une garantie d'un an avec un excellent service après-vente.

Analyse à grande vitesse : Conception compacte offrant des performances inégalées, une grande vitesse et une utilisation conviviale.