Dispositif de test des vibrations pour la vérification des paramètres des caractéristiques antivibratoires des composants optiques

Mesure sans contact des vibrations, des déplacements et de la fréquence, adaptée à l'usinage ultrasonore, aux structures de précision, aux équipements de semi-conducteurs et aux expériences de vibrations universitaires. Précision : résolution de déplacement en picomètre, plage de fréquences de 0 à 10 MHz, petite taille (85 x 26 x 54 mm), peut être installé dans des espaces restreints.

La gamme KV est un vibromètre Doppler laser développé par Kathmatic, qui appartient à la catégorie des équipements de détection de vibrations de précision sans contact. Il est principalement utilisé pour mesurer le déplacement, la vitesse, l'accélération et la fréquence des vibrations d'un objet, et est largement utilisé dans l'analyse modale, le diagnostic de défauts, les tests de résonance, le suivi des vibrations, les tests NVH et d'autres applications.

Adapté aux domaines tels que l'usinage mécanique, les pièces automobiles, l'électronique 3C, les MEMS/semi-conducteurs, les équipements ultrasonores, les éoliennes, l'aérospatiale et la recherche universitaire, couvrant l'ensemble du processus d'inspection de la qualité industrielle, les expériences de recherche et développement, ainsi que le fonctionnement et la maintenance des équipements.

Pas besoin de fixer de capteurs, pas d'interférence de masse supplémentaire, et pas de dommage à la pièce testée ; Capable de mesurer dans des espaces restreints, à des températures élevées, avec des mouvements à grande vitesse et sur des pièces flexibles ; Vitesse de réponse rapide, large bande de fréquences, capable de capturer de petites vibrations à haute fréquence, et données de mesure plus proches des conditions réelles de fonctionnement.

Version standard KV, version haute fréquence, version multi-canaux ; Privilégiez les modèles de base pour les vibrations mécaniques conventionnelles, les modèles haute fréquence pour les tests ultrasonores/de haute fréquence des puces, et les modèles multi-canaux pour les tests synchrones multi-points.