Système d'analyse de microscope ultra-précis pour l'analyse de la topographie des puces

Name: Système d'analyse de microscope ultra-précis pour l'analyse de la topographie des puces
Brand: Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
SKU: 2321269245

Jiangsu, ChineNanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.

48 000,00 $US

1 Jeu

45 000,00 $US

2+ Sets

Spécifications du produit

modèle de lentille objective

sélection de multiplicateurs

composants de la plateforme

Profil du produit

Personnalisation

Disponible

Service après-vente

assistance vidéo en ligne

Garantie

1 an

N° de Modèle.

KS-X5050A

déplacement de l'axe z

50 mm

précision minimale des étapes

0.1μm

capteur d'image

25 millions de pixels haute définition

processeur de commande principal

processeur haute performance intel i7

mémoire de fonctionnement

64gb grande mémoire

stockage des données

1tb disque SSD haute vitesse

carte graphique indépendante

rtx3060 carte graphique professionnelle

périphérique d'affichage

27-inch 4k écran ultra clair, résolution 3840×2160

température de fonctionnement

5℃-40℃

humidité de fonctionnement

5%-80% rh, pas de condensation

système d'alimentation

équipé d'une alimentation électrique stable de qualité industrielle

Paquet de Transport

boîte en carton

Spécifications

personnalisé

Marque Déposée

kathmatique

Origine

Chine

Caractéristiques principales

Équipé d'un système d'imagerie optique entièrement mis à niveau, les algorithmes de synthèse et de mosaïque sont optimisés de manière synchronisée.

Quatre indicateurs clés de l'imagerie sont considérablement améliorés par rapport aux microscopes traditionnels, notamment la résolution optique, la reproduction des couleurs, les performances d'imagerie multi-lumière et la définition des pixels.

Les micro-textures, les structures métallographiques et les minuscules rayures peuvent être clairement présentées sans distorsion ni déviation de couleur.

La fonction de synthèse de profondeur ultra-élevée capture des images en couches dans une plage Z personnalisable et enregistre les données de hauteur, puis synthétise des images de nuages de points en couleur réelle avec une mise au point complète.

Il prend en charge la mesure 3D de la hauteur de l'arc de soudure, de la hauteur des plots BGA, du profil, du volume, de la rugosité de surface et de la différence de hauteur, et génère des cartes de nuages de hauteur en pseudo-couleurs.

Intègre 7 types de modes d'éclairage : lumière coaxiale, lumière annulaire, lumière latérale, lumière de transmission inférieure, polarisation, interférence différentielle DIC et lumière à quatre couleurs.

Différentes sources de lumière permettent de visualiser les plaquettes lisses, les métaux diffus, les cristaux transparents, les textures de contraintes et les micro-rayures, permettant ainsi de révéler efficacement les défauts cachés.

Prend en charge la mosaïque planaire 2D et la mosaïque de profondeur 3D, avec un nombre maximal de pixels mosaïqués dépassant 10 milliards.

Une fenêtre de prévisualisation de mise au point en temps réel intégrée affiche la position relative entre l'objectif et l'échantillon, avec une ligne d'avertissement anti-collision, ce qui facilite l'observation des parois latérales.

Fonctions de mesure 2D et 3D complètes. La mesure 3D comprend la différence de hauteur, le profil, le volume et la rugosité de surface Ra/Sa. Toutes les données de mesure peuvent être exportées vers des tableaux.

Profil de l'entreprise

Attestation de gestionContrôle qualité standardiséBrevets attribuésCapacités de R&D

Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.

Jiangsu, Chine

CertifiéType d'Entreprise: Fabricant/Usine & Société Commerciale CertifiéCapacité de R&D: Service ODM disponible CertifiéOptions de personnalisation: Personnalisation à partir d'échantillons, Personnalisation à partir des conceptions, etc. CertifiéPort le plus Proche: Shanghai PortTemps de réponse moyen: ≤9.29h

À propos de notre Usine & Contexte Commercial

AdresseFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China

Surface de l'Usine3580 Mètres Carrés

Nombre d'Employés294

Capital Social10,000,000 RMB

Délai MoyenDélai de Livraison en Pleine Saison: 1-3 Mois, Délai de Livraison hors Saison, 1-3 Mois

Partenaires de la chaîne d'achat51

Notre Capacité de Production & Expertise Technique

Produits PrincipauxMicroscopes numériques, microscope optique, 3D microscope, microscope laser, profileur, microscopie confocale, interféromètre à lumière blanche, vibromètre laser Doppler, testeur de rugosité sans contact, vibromètre Doppler

Lignes de production4

Machines de productionCNC Centre

Inspecteurs QA/QC8 people

Type d'inspection pour les produits finis100% inspection(Inspection visuelle & Contrôle de fonctionnement)

Méthode d'inspection des produits finisAvoir des instructions et les suivre uniformément

Ingénieurs R&D56 people

Traçabilité des matières premièresOui

Notre expérience dans le Secteur & Record Commercial Mondial

Principaux MarchésAmérique du Nord, Amérique du Sud, Europe de l'Est, Asie du Sud-Est, Afrique, Océanie, Moyen Orient, Asie de l'Est, Europe de l'Ouest

Nouveaux produits lancés l'année dernièreOui

Nos Certifications, Normes & Reconnaissance de l'Industrie

Certification du Système de GestionISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Autres

Produit Q&A

Q:Peut-on effectuer une analyse de défaillance avec la série KS ? Est-il possible de capturer des images microscopiques haute définition ?

Absolument. Zoom de 20 à 9000x, clarté totale de l'image, morphologie 3D, mesure de la rugosité, adapté à l'analyse des microstructures, des fissures, des rayures, de la corrosion, de l'usure et des matériaux, et permet d'exporter des images haute définition ainsi que des rapports de mesure.

Q:Quelle est la différence entre la profondeur de champ "super" de la série KS et celle de la série KM ?

La série KS est un microscope à profondeur de champ pure, avec un grossissement plus élevé (20-9000x) et des détails d'observation plus précis, adapté à l'analyse des microstructures, à l'analyse des défaillances et à la recherche scientifique. La série KM est une intégration "cinq en un", avec la profondeur de champ "super" comme l'une de ses fonctions, prenant en compte l'épaisseur 2D/3D/film, adaptée à l'inspection de la qualité en série industrielle, et privilégiant l'efficacité.

Q:Un microscope à profondeur de champ "super" peut-il mesurer la largeur des lignes de développement lithographique PI ?

Bonjour, merci beaucoup pour votre intérêt pour notre produit ! Le microscope à profondeur de champ ultra-élevée possède des capacités de mesure de haute précision et peut répondre à divers besoins d'observation microscopique. Notre produit possède la capacité de mesure correspondante pour mesurer la largeur des lignes de développement lithographique PI. N'hésitez pas à contacter notre équipe de professionnels, nous vous fournirons des réponses plus détaillées et un support technique.

Q:Un microscope numérique 3D peut-il observer les défauts d'usure des fraises de coupe ?

Bonjour, notre microscope numérique 3D offre d'excellentes performances pour l'observation des défauts d'usure des fraises de coupe, fournissant des images haute définition et en profondeur pour vous aider à déterminer avec précision l'état d'usure des fraises. De plus, nos produits sont également faciles à utiliser et stables, ce qui peut répondre à vos divers besoins d'observation. N'hésitez pas à contacter notre équipe de service professionnel pour plus de détails.

Q:Dans quels domaines peut-on utiliser des microscopes numériques 3D ?

Les microscopes numériques 3D ont de nombreuses applications dans divers domaines. Dans le domaine des sciences des matériaux, ils sont utilisés pour analyser la microstructure et les propriétés des matériaux. Ils sont largement utilisés dans des industries telles que la fabrication intelligente, l'aérospatiale, l'électronique 3C, les semi-conducteurs, l'automobile, les nouvelles énergies, les nouveaux matériaux, les produits pharmaceutiques médicaux, etc. Dans quel domaine spécifique souhaitez-vous connaître leurs applications ?