Question 1

Quels types de projets peuvent être analysés par KC ?

Accepted Answer

Morphologie 3D, longueur/angle/rayon/distance du centre, profondeur/pas, contours, rugosité (Ra/Rz/Sa/Sz), planéité, volume/surface, détection de défauts, génération automatique de rapports. Prise en charge de l'analyse parallèle de plusieurs appareils, balayage et traitement en parallèle, doublant l'efficacité.

Question 2

Quels types d'échantillons peuvent être analysés par KC ?

Accepted Answer

Les métaux, le graphite, les wafers, les cartes de circuits imprimés en verre, les pastilles de cuivre, les structures gravées, les électrodes de batteries, les pièces traitées par grenaillage, les surfaces de fracture, les matériaux transparents, les matériaux poreux et les matériaux souples peuvent tous être analysés. N'hésitez pas à prendre rendez-vous pour des besoins de test spécifiques et pour tester vos échantillons afin de visualiser les résultats.

Question 3

Quelle est la différence entre KC et les microscopes et profilomètres ordinaires ?

Accepted Answer

Les microscopes ordinaires ne permettent que l'observation ; un profilomètre peut rayer l'échantillon ; le KC-X3000 est un système de mesure tout-en-un pour la morphologie 3D, les dimensions, la rugosité et la planéité, avec une précision au niveau du nanomètre et sans endommager l'échantillon.

Question 4

Qu'est-ce que le KC-X3000 ?

Accepted Answer

Le KC-X3000 est un microscope de mesure de précision tout-en-un développé par Kathmatic, qui intègre le balayage morphologique, l'observation avec une profondeur de champ ultra-élevée et la mesure fusionnée. Il utilise la technologie confocale spectrale pour réaliser une microscopie 3D de haute précision et sans contact.

Question 5

Le microscope de mesure de précision tout-en-un KC-X3000, à quelles fonctions spécifiques se réfère l'expression "tout-en-un" ?

Accepted Answer

L'appareil intègre trois fonctions principales : le balayage morphologique, l'observation avec une profondeur de champ ultra-élevée et la mesure fusionnée. Un seul appareil peut remplacer les profilomètres 3D traditionnels, les microscopes avec une profondeur de champ ultra-élevée et les instruments de mesure de contours, permettant ainsi des opérations d'observation, de balayage et de mesure intégrées.

Question 6

Quel est le principe de mesure fondamental utilisé dans cet appareil KC ? Quels sont les avantages ?

Accepted Answer

Équipé d'une technologie confocale spectroscopique laser et d'un module d'imagerie de 12 millions de pixels, il n'est pas affecté par le matériau de l'échantillon, sa réflectivité ou son inclinaison, et peut capturer avec précision les informations de micro-hauteur, permettant ainsi un test non destructif, de haute précision et sans contact.

Question 7

Dans quels secteurs d'activité les appareils KC sont-ils principalement utilisés ?

Accepted Answer

Largement utilisés dans les secteurs de la semi-conducteur, des batteries lithium-ion, de la photovoltaïque, de l'électronique 3C, de l'aérospatiale, de l'usinage de précision, de la recherche et du développement de nouveaux matériaux, de la recherche scientifique universitaire et dans d'autres domaines, adaptés à la fois à l'inspection de la qualité industrielle et aux scénarios de recherche académique.

Question 8

L'imagerie KC risque-t-elle de surexposer des échantillons tels que les métaux très réfléchissants et les wafers en silicium ?

Accepted Answer

Non. L'équipement est équipé de sources de lumière contrôlables dans les zones de couleur rouge, verte et bleue, prenant en charge le réglage indépendant de la luminosité des anneaux intérieurs et extérieurs, ce qui peut supprimer efficacement les fortes réflexions lumineuses. Les wafers et les pièces métalliques très réfléchissantes peuvent également être visualisés clairement.

Question 9

Peut-on effectuer des analyses KC sur des matériaux transparents et des échantillons de films minces ?

Accepted Answer

Oui. La technologie confocale spectrale peut être adaptée aux matériaux transparents et semi-transparents, et peut identifier avec précision la morphologie de la surface et la hauteur des films.

Spécifications du produit

modèle de lentille laser

plage de lentille laser/μm

résolution de l'axe z/nm

Profil du produit

Personnalisation

Service après-vente

Garantie

N° de Modèle.

Type

Mobilité

Effet stéréoscopique

Type de source de lumière

Utilisation

Principe

Principe de Optics

concentrer la plage de mouvement de l'axe z

mode de conduite de l'axe z de mise au point

mesurer la résolution de l'appareil photo

mesurer la fréquence d'images maximale de la caméra

uc

mémoire interne

stocker

résolution d'affichage

taille d'affichage

température ambiante de fonctionnement

humidité ambiante

Paquet de Transport

Spécifications

Marque Déposée

Origine

Caractéristiques principales

Profil de l'entreprise

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